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SerDes高速串行测试:S参数测试、插损测试、回损测试、TDR测试专业方案

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产品产地: 中国大陆
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发布时间: 2026/8/11 14:31:43
SerDes是PCIe、SATA、SAS、高速以太网等众多接口的物理层核心技术。随着速率进入28Gbps、56Gbps PAM4时代,其信道性能成为系统互连的瓶颈。北京淼森波信息技术有限公司,提供适用于各种SerDes接口的通用化、专业级信道测试解决方案
无论您的SerDes接口采用何种协议,其无源信道测试原理相通。我们的服务提供通用且深入的洞察:通用S参数提取:提供Tx到Rx之间的完整2端口或4端口S参数,包括插入损耗、回波损耗、模式转换和串扰。这是进行通道仿真和合规性评估的基础。损耗与反射分析:精确量化通道的损耗特性,判断其是否满足SerDes IP的接收灵敏度要求。同时,分析反射能量,评估其对信号完整性的影响。TDR阻抗故障诊断:定位由封装、PCB、连接器等引起的阻抗不连续点,为改进物理设计提供直接依据。模型交付与仿真支持:提供标准的Touchstone格式(.sNp)S参数模型,客户可直接用于SerDes的IBIS-AMI仿真,预测系统性能。多场景支持:可测试板级互连、电缆组件、背板通道等,适用于网络交换芯片、AI加速卡、存储控制器等各种应用场景。
标签:SerDes信道表征,通用S参数模型,高速互连分析
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