① SI信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。
主要品牌:惠普 HP/ 安捷伦 Agilent/ 是德 Keysight、安立 Anritsu、爱德万 Advantest、罗德史瓦兹 Rohde&Schwarz、泰克 Tektronix、 IFR/Marconi、吉时力 Keithley、Hitachi、Panasonic、Fluke、Iwatsu、Lecroy 、NI(National Instruments)、Fluke(福禄克) 等
仪器仪表。
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