ARM器件 器件替代测试 替代测试主要内容 替代测试主要指标
在新项目需要选择一个全新的基于ARM嵌入式处理器平台的时候,难免会需要对新平台的性能进行评估,这时候有几种思路可以进行参考,一是ARM芯片厂家发布的性能指标,不过大多数是基于理论情况;二是购买同样平台的开发板移植应用进行实测,效果*直接但是可能需要花费较大精力和时间;那么这个时候也可以考虑使用针对性的benchmark软件在目标平台上面进行性能测试,算是一个折衷的方法,其结果有一定参考意义但由于影响benchmark软件结果的因素不仅仅是硬件本身,还有不同的BSP以及软件设定等,因此在这些设定一致性越大的前提下其结果的参考意义才越大,否则很可能结果不是预期想要的甚至南辕北辙。采用Toradex工业产品等级 ARM计算机模块以及其发布的*新版Linux BSPV2.5Beta3*为测试基准平台,同时将对结果影响比较大的CPU主频和显示输出分辨率尽可能保持一致来进行测试,测试样本分别是基于Colibri T20 512M, 基于Colibri i.MX6DL 512M以及基于Colibri VF61 256M;其中前两个均为双核Cortex-A9 ARM核心,第三个为Cortex-A5和M4异构双核核心,不过这里只测试A5。 因为ARM 芯片的复杂度越来越高,为对其进行功能测试,人工编写测试向量的工作量是极其巨大的,实际上一个ARM 芯片测试向量的手工编写工作量可能达到数十人年甚至更多。针对ARM Cortex 内核的工作原理,提出了一种高效的测试向量产生方法。 北京淼森波信息技术有限公司主要提供高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。 高速电路测试服务项目有:① SI信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试,主要内容是电源的电压值(精度)、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试,主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。
更新时间:2024/4/8 12:29:10 标签:ARM 器件 器件替代测试 替代测试主要内容 替代测试主要指标 |