Flash 器件替代测试 替代测试主要内容 替代测试主要指标随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长.FLASH芯片作为移动存储设备中*常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对FLASH芯片的测试要求也越来越高.本文介绍了FLASH存储器的基本结构和测试原理,特别是详细分析,研究了可应用于FLASH芯片的测试算法,对算法进行了部分改进与综合.测试实验表明,在与传统的棋盘格测试方法相同的故障覆盖率时,本方法的测试效率更高。北京淼森波信息技术有限公司主要提供高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。 高速电路测试服务项目有：① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。
 更新时间：2024/5/20 13:37:11
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