| 漂移测试 SDH漂移测试：
1、PDH输入口的漂移容限测试
2、SDH网络STM-N输出口漂移网络限值 测试配置见图2
图注：进行STM-N接口输出漂移测试时必须用高稳定的基准时钟PRC对漂移测试仪进行定时，这样一来仪表才能接收到STM-N线路时钟信号与基准时钟进行相位比较，得出TIE值，同样也使测试结果更加准确。
对于没有PRC的地方，可以用大楼综合测试系统（BITS）的时钟代替。 3、测试步骤 （1）按图1接好电路，调整光衰减器，使输出光的功率在漂移测试仪要求的范围内。 （2）按被测接口速率等级，设置漂移测试仪接受为相同评率 （3）连续进行长时间测试（从0.01s级开始至1200s或更长，一般为三倍于观察时间），获得漂移数据，测试结束后利用分析软件包对数据进行分析得到MTIE和TDEV结果（经漂移测试仪记录的TIE数据送入计算机分析得到MTIE和TDEV曲线），测得的结果应不超过相关限定值。 4、STM-N输入口的漂移容限测试
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